出版教材
元器件手册
| 编号 | pub02 |
|---|---|
| 书名 | 数字逻辑电路实验 |
| 作者 | 数字逻辑电路实验课程组 |
| 出版社 | 北京大学出版社 |
| 出版时间 | 2008年 |
| 简介 | 目 录 第一篇 数字逻辑电路实验基础 第一章 数字逻辑电路实验导论 §1.1 序论 §1.2 实验的有关规定 1.2.1 实验要求 1.2.2 实验操作要求 1.2.3 实验室管理要求 §1.3 正确地撰写实验报告 1.3.1 实验报告的内容 1.3.2 实验报告的例子 §1.4 数字电路实验基础知识 1.4.1 数字集成电路的分类及主要参数 1.4.2 TTL与CMOS数字集成电路使用注意事项 第二章 可编程逻辑器件GAL及ABEL语言 §2.1 概述 §2.2 可编程逻辑器件概述 2.2.1 可编程逻辑器件简介 2.2.2 实现编程的工艺 2.2.3 PLD的开发过程 §2.3 PAL的基本电路 2.3.1 组合逻辑PAL 2.3.2 有寄存器的PAL 2.3.3 利用PAL设计电路的过程 2.3.4 器件的工业型号 2.3.5 PAL的封装 §2.4 GAL的基本电路——带有结构编程的PAL 2.4.1 从PAL发展到GAL——通用型PAL 2.4.2 16V8型和20V8型GAL 2.4.3 GAL器件简介 §2.5 GAL(PAL)的编程 2.5.1 可编程单元的代码 2.5.2 熔丝图文件与JEDEC文件 2.5.3 GAL的编程过程 2.5.4 在线可编程GAL——ispGAL16Z8 §2.6 ABEL软件简介 2.6.1 ABEL软件的功能 2.6.2 ABEL软件的运行 2.6.3 设计文件（源文件）的格式 2.6.4 设计文件举例及几种语句与符号 §2.7 DECLARATIONS（定义段）语句 2.7.1 器件定义语句 2.7.2 引脚定义语句 2.7.3 节点定义语句 2.7.4 常量定义语句 §2.8 逻辑功能描述与仿真测试 2.8.1 逻辑方程 2.8.2 真值表 2.8.3 测试矢量表 2.8.4 仿真跟踪的级别 §2.9 状态图设计语句 2.9.1 状态与转移条件的表述 2.9.2 状态转移语句格式与Goto语句 2.9.3 case语句和If－Then－Else语句 2.9.4 With－Endwith语句 第二篇 数字逻辑电路实验 实验一 逻辑门电路测试一 实验二 逻辑门电路测试二 实验三 单稳态电路与无稳态电路 实验四 晶体振荡器 实验五 组合逻辑电路的应用 实验六 计数器和脉宽测量 实验七 同步时序系统设计 实验八 单次触发的异步时序逻辑系统设计 实验九 程序控制反馈移位寄存器 实验十 m序列 实验十一 数字锁相环 实验十二 模数和数模转换 实验十三 同步时序系统设计仿真 实验十四 程序控制反馈移位寄存器仿真 附录 |